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簡(jiǎn)要描述：晶閘管綜合測(cè)試儀型號(hào)：DBC-021/031可控硅的伏安特性和觸發(fā)特性是晶閘管的基本特性，這些特性的好壞，直接影響到器件在整機(jī)上的正常使用。因此，檢測(cè)晶閘管的伏安特性和觸發(fā)特性在晶閘管器件的生產(chǎn)、經(jīng)銷(xiāo)及使用過(guò)程中都是十分重要的。測(cè)試以上參數(shù)通常由晶閘管伏安特性測(cè)試儀和晶閘管門(mén)觸發(fā)特性測(cè)試儀完成，測(cè)試伏安特性參數(shù)時(shí)還需另配一臺(tái)示波器觀看伏安特性曲線，以上三臺(tái)儀器常規(guī)價(jià)在7000—10000元以上
產(chǎn)品型號(hào)：DBC-021/031廠商性質(zhì)：其他更新時(shí)間：2025-11-03訪 問(wèn) 量：603產(chǎn)品分類(lèi)
Product Category詳細(xì)介紹
| 產(chǎn)地 | 國(guó)產(chǎn) | 加工定制 | 否 |
|---|
晶閘管綜合測(cè)試儀型號(hào)：DBC-021/031
晶閘管綜合測(cè)試儀
可控硅的伏安特性和觸發(fā)特性是晶閘管的基本特性，這些特性的好壞，直接影響到器件在整機(jī)上的正常使用。因此，檢測(cè)晶閘管的伏安特性和觸發(fā)特性在晶閘管器件的生產(chǎn)、經(jīng)銷(xiāo)及使用過(guò)程中都是十分重要的。測(cè)試以上參數(shù)通常由晶閘管伏安特性測(cè)試儀和晶閘管門(mén)觸發(fā)特性測(cè)試儀完成，測(cè)試伏安特性參數(shù)時(shí)還需另配一臺(tái)示波器觀看伏安特性曲線，以上三臺(tái)儀器常規(guī)價(jià)在7000—10000元以上，且臺(tái)數(shù)多、占地大、操作不方便。我們根據(jù)廣大用戶(hù)的需求，現(xiàn)研制出將以上三臺(tái)儀器作在一起的晶閘管伏安特性、觸發(fā)特性綜合測(cè)試儀，深受廣大用戶(hù)好評(píng)。
該測(cè)試儀測(cè)試方法符合國(guó)標(biāo)GB4024-83的規(guī)定，采用單片機(jī)控制，自動(dòng)測(cè)試、數(shù)字顯示。線路設(shè)計(jì)簡(jiǎn)捷精練，機(jī)內(nèi)示波器可直接觀看伏安特性曲線。具有體積小、重量輕、操作簡(jiǎn)單、測(cè)試準(zhǔn)確、保護(hù)可靠、維修方便、價(jià)格低廉等特點(diǎn)，能測(cè)試各種晶閘管及晶閘管模塊的正反向不重復(fù)峰值電壓、反向重復(fù)峰值電壓、正反向重復(fù)峰值漏電流及門(mén)觸發(fā)電流與觸發(fā)電壓。是晶閘管器件生產(chǎn)廠、器件經(jīng)銷(xiāo)商及整機(jī)廠檢測(cè)晶閘管多項(xiàng)參數(shù)的綜合性測(cè)試設(shè)備。
晶閘管在使用過(guò)程中，由于受到過(guò)流、過(guò)壓、過(guò)熱等諸多因素的影響，其伏安特性和觸發(fā)特性將會(huì)逐漸變差，甚至不能維持正常使用或損壞，因此在進(jìn)行整機(jī)維修時(shí)，對(duì)已用過(guò)的元件和要新上機(jī)的元件進(jìn)行檢測(cè)確認(rèn)性能良好后再上機(jī)，對(duì)盡快排除設(shè)備故障少走彎路很有好處。
機(jī)內(nèi)自備有**用示波器供觀看伏安特性曲線
單片機(jī)控制，測(cè)試參數(shù)數(shù)字顯示
峰值電壓測(cè)試范圍: 0-3000V
峰值漏電流測(cè)試范圍: 0-100mA
觸發(fā)電壓測(cè)試范圍: 0-5V
觸發(fā)電流測(cè)試范圍: 5-450mA
DBC-021、031 可控硅綜合特性測(cè)試儀簡(jiǎn)介
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